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产品详情
简单介绍:
XJ4810/XJ4810A半导体管特性图示仪,采用示波管显示半导体器件的各种特性曲线,并测量其静态参数。本仪器具有二簇曲线显示,双向集电极扫描电路,可以对被测半导体器件的特司长进行对比分析,便于对管或配件配对。本仪器IR测量达200nA/div,配备扩展装置后,VC可达3KV;可测试CMOS及TTL门电路传输特性;可对场效应管进行配对或对管测试;可测试三端稳压管特性。
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XJ4810/XJ4810A半导体管特性图示仪 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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